手機(jī)殼冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 又稱高低溫沖擊試驗(yàn)箱，是專業(yè)用于LED老化試驗(yàn)和耐高低溫試驗(yàn)的設(shè)備。在國(guó)內(nèi)，勤上光電，雷士照明等一大批LED光電企業(yè)，均有訂購(gòu)該系列試驗(yàn)箱做測(cè)試。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)型號(hào)規(guī)格：

型號(hào) TS-80  內(nèi)形尺寸D×W×H  400×400×500

型號(hào)TS -225  內(nèi)形尺寸D×W×H  500×600×750

型號(hào)TS -500  內(nèi)形尺寸D×W×H  700×800×900

型號(hào)TS -800  內(nèi)形尺寸D×W×H  800×1000×1000

型號(hào)TS -1000 內(nèi)形尺寸D×W×H  1000×1000×1000

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)溫度變化率：

1槽法：大于30℃/分鐘 (空氣)

2槽法：大于50℃/分鐘 (空氣)

1槽法：小于15℃/分鐘 (試樣)

1槽法：小于20℃/分鐘 (空氣)

加速系數(shù)：100～500倍

比加速試驗(yàn)加速系數(shù)小 10～20倍

試驗(yàn)結(jié)果：設(shè)計(jì)信息   生產(chǎn)品質(zhì)差異驗(yàn)證

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指標(biāo)：

試驗(yàn)方法：溫度沖擊試驗(yàn) 溫度循環(huán)試驗(yàn)

試驗(yàn)環(huán)境：比使用環(huán)境更嚴(yán)酷 極限使用環(huán)境

試樣：零部件 元器件，焊點(diǎn)(BGA，CSP) 成品

試樣尺寸：小比較大

試驗(yàn)溫度范圍：-40(-55)～125(150)℃、 -40(-65)～125(150)℃、 -40(-0)～100℃

目的：加速應(yīng)力試驗(yàn) 加速壽命試驗(yàn) 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS)

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)溫度沖擊試驗(yàn)：

1、升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時(shí)試驗(yàn)嚴(yán)酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。

2、溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。

3、溫度沖擊試驗(yàn)容許使用二槽式試驗(yàn)裝置；溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于50℃/分鐘。

4、引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。

5、加速應(yīng)力試驗(yàn)：加速試驗(yàn)是使用比在實(shí)際環(huán)境中更短的時(shí)間，對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行的加速試驗(yàn)，以考察其失效機(jī)理。試驗(yàn)的加速就是采用加大應(yīng)力的方法促使試驗(yàn)樣品在短期內(nèi)失效，。但是須注意避免其它應(yīng)力原因引起的失效機(jī)理。

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